今年度も光電子分光分析研究室と全自動微小部分析装置室合同の安全講習会が執り行われます。 各装置の利用においてはこの安全講習会受講が原則条件となっておりますので、ユーザーの皆様は必ずご参加ください。 詳しくはこちらに記載さ…
SEMのメンテナンスが終了しました。
前日から故障していたSEM(JSM-6510LA)の修理が終了いたしました。 以前と同様にご利用頂けますので、ご利用の方はご予約の上、安全なご使用をよろしくお願い致します。
SEMが現在故障中です。
現在、SEM(JSM-6510LA)が低倍率において２次電子像、反射電子像全ての画面で一部の領域しか映らないトラブルが発生しております。 利用者の方にはご不便をおかけ致しますが、当面の間メンテナンス期間とさせて頂きますの…
AESマッピング分析の縦縞ノイズがなくなりました。
オージェのマッピング分析時に今まで現れていた縦縞のノイズが今回のメンテナンスで修正されました。 修正前 修正後 AESメンテナンスは終了し、通常通りご利用いただけます。 よろしくお願い致します。