いつもご利用ありがとうございます。 令和8年度からのオープンファシリティでの装置予約についてご連絡です。 昨年度以前に装置初回講習を受講して、装置予約が開放されていた利用者については、新年度に移りましたので、新たにオープ…
オープンファシリティでのXPS、AES-EBSDの予約について
いつもご利用ありがとうございます。 オープンファシリティでのX線光電子分光装置(JPS-9200)、オージェ電子分光装置(JAMP-9500F)の予約方法について、2月2日より変更点がございます。 ARIM(マテリアル先…
年末年始の装置利用・予約について
いつもご利用ありがとうございます。 光電子分光分析研究室は2025/12/27(土)～2026/1/4(日)の装置利用を停止致します。 当期間、オープンファシリティでの装置予約は行えません。 スタッフも不在となります。 …
XPSが不具合のため、7月中の予約を停止しました
いつもご利用ありがとうございます。 現在、光電子分光装置JPS-9200について、V1バルブが完全に締まり切らず、リークしてしまう現象が発生しており、装置利用が出来ない状況です。 V1バルブの交換作業を7月28-31日に…
装置使用料改定および予約システム移行のご案内
いつも光電子分光分析研究室をご利用頂き、誠にありがとうございます。以下2点につきまして重要なお知らせとお願いがございます。 1．装置使用料改定について光熱費および装置保守費用の高騰を受け、誠に心苦しい限りではございますが…
第9回北海道大学微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング開催について
いつもご利用頂きありがとうございます。 このたび「第9回北海道大学微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング」を光電子分光分析研究室、ナノマイクロマテリアル分析研究室、複合量子ビーム超高圧顕微解析研究室、3施設主催で開催…
装置予約時のARIM番号入力について
いつもご利用ありがとうございます。 ４月１日より新年度となります。ARIM事業へ利用申請を行っている方は装置予約時・利用時にはR7年度の新しいARIM課題番号を入力するようにしてください。昨年度の課題番号は無効になります…
令和7年度ARIM利用申請受付が始まりました。
いつもご利用ありがとうございます。 本施設の光電子分光装置(XPS、JPS-9200)、オージェ電子分光装置(AES、JAMP-9500F)が登録されております、北海道大学マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)事業の…
ARIMへのデータアップロードについて
いつもご利用ありがとうございます。 マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)事業へ利用申請を行い、本施設装置利用料についてARIM料金を適用されているユーザーはAES、XPSでの測定データをデータ登録システムRDE(R…
当施設ユーザー登録申し込みグーグルフォームについて
いつもご利用ありがとうございます。 当施設のユーザー登録申し込みのついて、グーグルフォームを作成しました。 光電子分光分析研究室に新たにユーザー登録を希望する方、初回講習を希望する方は、こちらの申し込みのグーグルフォーム…
年末年始の利用について
いつもご利用ありがとうございます。 2024年12月29日～2025年1月3日までの間、施設の全装置はご利用出来ません。 スタッフも同期間不在です。 装置予約サイトはアクセス可能です。 本年もお世話になりました。来年も宜…
オージェ電子分光装置の反射電子像の不具合と修理日程について
いつもご利用ありがとうございます。 現在、オージェ電子分光装置(AES、JAMP-9500F)において、反射電子像(COMPO、TOPO像)を観察される際、像にチラつきが映り込む現象が現れています。反射電子像を取得する際…
全学停電対応について
いつもご利用いただきありがとうございます。 8月31日、9月1日に行われる全学停電の対応のため、下記の期間、施設の全装置が使用出来ません。 9月30日(金)17時～９月2日(月)10時 (XPS、AESは13時まで予定)…
XPSメンテナンス日程変更のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 XPS(JPS-9200)の定期保守点検日程について、下記の日程に変更になりました。 7/22(月)～7/31(水) 終日 上記期間中はXPSが使用出来ません。 ご不便をおかけしますが…
XPS&AESメンテナンス日程のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 XPS(JPS-9200)とAES(JAMP-9500F)の定期保守点検日程のお知らせです。 下記の日程の間、メーカーメンテナンス作業のため、装置は使用出来ません。 XPS：2024年…
XPSのモノクロX線源が復旧しました
いつもご利用ありがとうございます。 光電子分光装置(JPS-9200)で不具合のため使用出来なくなっていたモノクロX線源ですが、復旧しました。 全ての線源が普段通りご使用頂けます。 フィラメントに通電した際、3.5Aまで…
XPSのモノクロX線は現在使用出来ません
いつもご利用ありがとうございます。 光電子分光装置(JPS-9200)について、モノクロX線源のフィラメントが断線したため、モノクロX線での測定が出来なくなりました。 現在メーカーと修理予定について調整中で、復帰時期は未…
令和6年度ARIM利用申請受け付けが始まりました。
いつもご利用ありがとうございます。 本施設の光電子分光装置(XPS、JPS-9200)、オージェ電子分光装置(AES、JAMP-9500F)が登録されております、北海道大学マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)事業の…
年末年始の施設利用について
いつもご利用ありがとうございます。 12月29日～2024年1月3日までの間、施設の全装置はご利用出来ません。 スタッフも同期間不在です。 装置予約サイトはアクセス可能です。 本年もお世話になりました。来年も宜しくお願い…
第8回北海道大学微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング開催について
いつもご利用頂きありがとうございます。 このたび「第8回北海道大学微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング」を光電子分光分析研究室、ナノマイクロマテリアル分析研究室、複合量子ビーム超高圧顕微解析研究室、3施設主催で開催…
全学停電への対応のお知らせ
いつもご利用いただきありがとうございます。 9月2，3日に行われる全学停電の対応のため、下記の期間、施設の全装置が使用出来ません。 9月1日(金)17時～９月4日(月)10時 (XPS、AESは13時まで予定) また同期…
全学共同利用施設説明会の開催について
いつもご利用ありがとうございます。 2023年度 工学研究院 全学共同利用施設説明会(オンデマンド)を下記の通り開催致します。 各共同利用施設の装置概要や利用案内について動画資料をELMS内に用意いたしましたので、共同利…
XPS＆AESの定期メンテナンス日程について
いつもご利用ありがとうございます。 今年度のXPS(JPS-9200)とAES(JAMP-9500F)の定期メンテナンス日程のお知らせです。 XPSは7月20日(木)～7月28日(金)に、AESは8月23日(水)～9月1…
EBSD検出器及びソフトウェアが新しくなりました
いつもご利用ありがとうございます。 この度、オージェ電子分光装置(JEOL製JAMP-9500F)に装備にされているEBSD検出器と測定・解析ソフトウェアが新しくなりました。 EBSD検出器は以前までCCDカメラタイプだ…
令和5年度ARIM利用申請＆装置予約について
何時もご利用ありがとうございます。 令和5年度のマテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)事業の申請手続きがスタートしました。 当施設は令和5年度もXPS・AESが登録装置となっており、当事業から支援を受けております。利…
オージェ電子分光装置の不調、及びメンテナンス日程について
いつもご利用ありがとうございます。 現在、オージェ電子分光装置(JAMP-9500F)はエミッタの不具合により、通常よりもSEM観察時の空間分解能が落ちています。大体1万倍程度の観察が限界の分解能となっています。 1万倍…
XPS(JPS-9200)の不具合と対応について
いつもご利用ありがとうございます。 XPSの不具合についてのご連絡です。現在、試料準備室と分析室を隔てるV1バルブに不具合があり、試料準備室をVENTした際にリークが起きて分析室の真空度が急激に悪くなる(10-4Paオー…
マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)利用料金規程について
光電子分光分析研究室利用者の皆様 ナノテクプラットフォームの後継事業として開始されました文部科学省「マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)」事業について、装置利用料金規程が10月1日付で確定致しました。 当施設のX…
AESメンテナンスのお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 オージェ電子分光装置について、現在試料準備室の真空引きがあまり進まない現象が起きています。 通常なら試料準備室の十分真空引きが行えていれば、真空計(ペニングゲージ)で針がゲージの緑色の…
AES定期保守点検日程が変更になりました。
いつもご利用ありがとうございます。 オージェ電子分光装置の定期保守点検日程が下記の通り、変更となりました。 2022/9/12(月) 9:00～ 2022/9/26(月) 9:00 ご確認のほどよろしくお願いいたします…
マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)利用申請受付が開始しました
いつもご利用ありがとうございます。 ナノテクノロジープラットフォーム事業の後継事業となる文部科学省 マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)事業について利用申請の受付がスタート致しました。 ARIM事業登録装置のご利用…
XPS定期保守点検日程について
いつもご利用頂きありがとうございます。 X線光電子分光装置(JPS-9200)の定期保守点検を下記の日程で行います。 7月21日(木)9時 ～ 8月1日(月)9時 上記期間中はXPS装置をご利用頂けません。 なお、点検日…
XPS装置マニュアル(測定編・解析編)更新しました。
いつもご利用ありがとうございます。 XPSの簡易マニュアル測定編、及び解析編をそれぞれ更新しました。 測定編ではアルゴンイオンエッチングの操作について、ガス圧設定などに若干変更があります。 解析編では、解析に関する幾つか…
AESのマニュアル(測定編、解析編)を更新しました
いつもご利用頂きありがとうございます。 オージェ電子分光装置(JAMP-9500F)の簡易マニュアル(測定編及び解析編)をそれぞれ更新致しました。 それぞれ、spectrum image機能の説明追加、spectrum …
鈴木啓太技術専門職員が技術支援貢献賞を受賞しました
いつもご利用頂きありがとうございます。 本施設技術職員の鈴木啓太が 「XPS，AESを用いた微細構造解析支援」 に関して、文部科学省 ナノテクノロジープラットフォーム 令和3年度技術支援貢献賞を受賞しました。 ナノテク…
XPSのArイオンガンの不具合解消及びカーボンコーターのご紹介
いつもご利用ありがとうございます。 JPS-9200のイオンガンについて、先日まで続いておりましたArガス圧を10.0×10-2Paまでバルブ開放すると分析室の真空度が著しく劣化し、X線が落ちてしまう不具合は、現在解消さ…
XPSのArイオンガンエッチングの不具合について
いつもご利用ありがとうございます。 JPS-9200のイオンガンについて、エッチングを利用する際に設定するArガスのガス圧10.0×10-2Paまでバルブ開放をすると、分析室の真空度が著しく劣化し、X線が落ちたりSIPが…
年末年始の利用について
いつもご利用ありがとうございます。 光電子分光分析研究室は12/29～1/3の期間、装置のご利用が出来ません。 研究室は施錠致しますが、自身で解錠して解析用PCの利用等で出入りする事は可能です。 装置予約サイトも上記期間…
光電子分光分析研究室XPS装置予約について
いつもご利用ありがとうございます。 現在、XPS装置の利用予約が立て込んでおります。 今後もXPSについては数週間先まで平日予約が立て込む事が予想されます。 当施設の装置利用予約については原則、試料の準備が整い、装置の利…
XPSメンテナンスのお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 9/21 9：00 ～ 9/27 10：00の期間中、XPSのイオンポンプ交換のためメンテナンスを行います。 当期間中、XPS装置はご利用出来ません。 メンテナンス期間は予告なく変更と…
EBSD装置復旧のお知らせ
何時もご利用ありがとうございます。 先日お伝えしたオージェ電子分光装置に装備されたEBSD装置について、本日修理が完了致しました。 本日より、EBSDを含めたオージェ電子分光装置の利用を再開致します。 装置マニュアル記載…
オージェ電子分光装置復旧のお知らせ(EBSD除く)
いつもご利用頂きありがとうございます。 先日お伝えしたオージェ電子分光装置(JAMP-9500F)の故障について、ステージの修理が完了致しました。 本日10時より予約を開放し、オージェ分析については皆様にご利用頂けます。…
オージェ電子分光装置故障のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 先日、オージェ電子分光装置(JAMP-9500F)が利用者の操作ミスにより故障しました。 当面の間、復旧作業のためオージェ電子分光装置及びEBSD装置は使用出来ません。 オージェの現在…
XPSマニュアル更新のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 今年度の定期保守点検が終了し、一部XPSのマニュアル内容が更新されましたので確認をお願い致します。 主な変更点は ・分析径を設定する絞りの数値(1㎜φと0.02㎜φの設定が変わっていま…
対面講習再開、XPS＆AES保守点検日程のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 6月21日、新型コロナウィルス感染拡大防止のための北海道大学の行動指針(BCP)レベルが2に引き下げになりました。 これに伴って、当施設は本日より対面講習を再開致します。 これからも対…
クライオクロスセクションポリッシャ(IB-19520CCP)の新規導入のお知らせ
いつもご利用頂きありがとうございます。 本施設では今年度、新たな共用機器としてクライオクロスセクションポリッシャ(IB-19520CCP JEOL)を導入致しました。 本機器はAr⁺ビーム照射により試料断面ミリングを行う…
BCPレベル3期間中の当施設対応について
いつもご利用頂きありがとうございます。 本学の行動指針レベルが6月上旬まで「レベル3：制限（大）」となることが決定したことに伴い、当施設利用についてBCPレベル3の期間中、装置の対面講習の受付を中止することと致しました。…
令和3年度ナノプラ事業 支援課題申請の受付が開始しました。
いつもご利用ありがとうございます。 令和３年度のナノテクノロジープラットフォーム事業の支援課題申請の受付が開始しました。 当施設のXPS、AESは本事業の登録装置です。本支援を受けられる研究課題による装置利用について、装…
web立ち会いシステムを導入しました
いつもご利用ありがとうございます。 この度、光電子分光分析研究室の装置と接続して、オンライン会議ツールから画面共有ができるweb立ち会いシステムを導入しました。 本システム利用により例えば、複数人での装置利用や講習時に代…
予約システムへのアクセス不具合について
いつもご利用頂きありがとうございます。 現在当施設の予約システムサーバーに不具合があり、以前のアドレスからでは入れなくなっています。 この度、予約システムのアドレスを変更致しました。 お手数お掛けしますが、予約システムへ…
オージェ電子分光装置のAES-PCが新しくなりました
いつもご利用ありがとうございます。 オージェ電子分光装置(JAMP-9500F)のAES- PCが新しく更新されました。 今まではLinax OSでしたが、Windows10に変更となり、エミュレーター内でLinaxを稼…
光電子分光装置の不具合解消＆メンテナンス日程お知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 先日まで発生していた光電子分光装置(JPS-9200)のX線ユニットに電源が入らない不具合について、修理が完了しました。 現在は通常通り使用頂けます。停止していた装置予約についても開放…
光電子分光装置の利用停止について
いつもご利用ありがとうございます。 現在、光電子分光装置(JPS-9200)について、X線源ユニットに電源が入らない不具合が発生しており、分析が行えません。 装置ご利用をご検討の皆様には大変恐縮ですが、不具合の解消までの…
オージェ電子分光装置EBSD修理日程の確定のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 先日不具合が見つかり、修理中となっているオージェ電子分光装置付属のEBSD装置CCDカメラの修理日程について、完了予定日が11月10日となりました。 11日以降EBSDをご利用頂ける予…
オージェ電子分光装置EBSD修理日程のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 現在オージェ電子分光装置に付属のEBSD装置について、CCDカメラの位置がわずかに下方にズレる不具合が発生しています。 この不具合について、EBSD装置CCDカメラの修理を10月14日…
学内利用者への装置講習再開について
いつもご利用ありがとうございます。 7月10日(金)に本学の「新型コロナウイルス感染防止のための北海道大学の行動指針（BCP）」がレベル2からレベル1へ変更となる見通しです。 これを受けて本施設はBCPレベルが1に移行し…
SEM＆AES＆XPSメンテナンス日程のお知らせ
いつもご利用頂きありがとうございます。 SEM、AES、XPSの定期保守点検の日程についてお知らせです。 SEM(JSM-6510LA)：6月22日 AES(JAMP-9500F)：6月24日～7月2日 XPS(JPS-…
施設装置利用を再開しました
いつもご利用ありがとうございます。 2020年6月1日付けで「新型コロナウイルス感染防止のための北海道大学の行動指針（BCP）」が 「レベル３」から「レベル２」に引き下げられました。 これを受け，当施設では既存の利用者の…
施設装置利用の停止期間の延長について
いつもご利用ありがとうございます。 コロナウィルス感染症への対応として本施設は施設装置の利用を停止しておりました。 この度、北海道大学の行動指針が5月31日までレベル3を維持する方針との発表がありました。 本施設の利用停…
施設装置利用の停止について
いつもご利用ありがとうございます。 新型コロナウイルス感染症拡大防止の対応について 非常事態宣言が発出されたことから、行動変容が必要となりました。 新型コロナ感染症拡大防止のため、 ４月２０日から５月１１日までの間、 利…
新規の装置講習の延期について
いつもご利用ありがとうございます。 光電子分光分析研究室は新型コロナウィルス感染拡大防止の対策として、５月６日までの間、新規のユーザーへの装置講習について受付致しません。 新規の装置講習については５月６日以降へ延期致しま…
施設に新規の技術職員が配属されました
いつもご利用ありがとうございます。 2020年4月1日より全学共同利用施設 光電子分光分析研究室に吉田すずか技術職員が新たに配属致しました。 鈴木啓太技術専門職員と共に当施設の管理及びユーザーの皆様への講習対応などを担当…
EDSの不具合について＆SEM-EDSのメンテナンス日程のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 最近SEM(JSM-6510LA)のEDSを使用中または使用前にバイアス電圧の不具合が起きる事が多くなっています。 EDSのバイアス電圧が掛かっていない場合、得られたスペクトルのピーク…
AES(JAMP-9500F)のSEM-PCを更新します
いつもご利用ありがとうございます。 AES(JAMP-9500F)のSEM-PCについて、windows10にアップグレードします。 また併せて試料ステージの交換作業を行います。 作業日程は3/25 9:00 ~ 3/3…
SEM-EDS(JSM-6510LA)マニュアル内容を更新しました
いつもご利用ありがとうございます。 SEM-EDS(JSM-6510LA)について日本語版、英語版のマニュアル内容を更新しました。 今までの利用方法ではSEMソフトウェア及び装置PCはシャットダウンをしない事としておりま…
XPS中和電子銃の復旧について
いつもご利用ありがとうございます。 XPS(JPS-9200)の中和電子銃の修理が本日完了しました。 通常通り中和電子銃も使用出来ます。 ご確認のほどよろしくお願い致します。
XPS中和電子銃の故障について
いつもご利用ありがとうございます。 光電子分光装置(JPS-9200)の中和電子銃のフィラメントが断線した為、現在中和電子照射が行えません。 修理は2/10(月)～12(水)終日に行う予定です。 問題なければ2/13より…
オージェ電子分光装置トランスファーベッセル取り付けに関わる変更点について
いつもご利用頂きありがとうございます。 本日、オージェ電子分光装置(AES)に大気非暴露用トランスファーベッセルの装備が取り付けられました。 試料準備室の扉部及び上部フランジが変更になっています。 また試料ホルダーを取り…
オージェ電子分光装置の故障について
いつもご利用ありがとうございます。 オージェ電子分光装置(AES)が現在イオンポンプの不具合で分析室の真空が度々落ちるという現象が続いています。原因は不明です。 AESの利用について、修理完了まで停止させて頂きます。 早…
施設ウェブサイトアドレスの変更について
いつもご利用頂きありがとうございます。 当施設のウェブサイトが SSL/TLS対応のサイト に変わりました。 新しいアドレスは https://labs.eng.hokudai.ac.jp/labo/HUXPSLab/ …
施設説明会資料について
本日材料化学棟2階で行いました施設説明会のスライド資料をご用意いたしました。 必要な方はこちらからダウンロードください。
微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング開催のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 10月23日(水)に第7回北海道大学 微小部・表面分析研究ユーザーズミーティングを開催することをお知らせいたします。 SEM、EPMA、XPS等の表面・微小部分析を必要とするユーザーの…
装置使用料の改定について
いつもご利用頂きありがとうございます。 全学共同利用施設 光電子分光分析研究室は 2019年 4月1日から装置使用料の料金改定を行っておりましたが、 2019年 10月1日からの消費税増税及び 本学ナノテクノロジープラッ…
AES＆XPS定期メンテナンス日程及び全学停電のお知らせ
いつもご利用頂きありがとうございます。 XPSは8月26日～9月3日までの間、AESは8月23日～8月31日までの間、定期メンテナンスの為ご利用出来ません。 XPSはこの定期メンテナンス作業に伴い、PC＆ソフトウェアのバ…
SEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器の修理について
いつもご利用ありがとうございます。 6月初旬から故障していたSEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器について、6/21(金)に修理を行います。 6/21(金)午後より、反射電子像観察(COMPO像、TOPO像)が行…
SEMの反射電子検出器の故障について
いつもご利用ありがとうございます。 SEM(JSM-6510LA)は現在、 試料との接触により検出器が壊れた為、反射電子像(COMPO像、TOPO像、立体像)の観察が行えません。 また、反射電子像を観察する低真空モードに…
XPSでの粉末試料の取り扱いについて
いつもご利用ありがとうございます。 光電子分光装置(JPS-9200)において、粉末試料を扱われるユーザーの方にお願いがございます。 ここ最近粉末試料の固定が甘い為に粉末が装置内に飛び散り、V1バルブの隙間に試料が入り込…
2019年度全学共同利用施設説明会資料について
いつもご利用ありがとうございます。 先月行われた2019年度全学共同利用施設説明会について、当日のスライド及び配布資料についてご確認されたい方はこちらからご覧ください。 分析相談はいつでも受け付けております。 施設スタッ…
全学共同利用施設説明会の開催について
いつもご利用ありがとうございます。 工学研究院の全学共同利用施設を中心とした合同施設説明会が4月24日に行われます。 各種の共用装置を運用する共同利用施設担当の技術職員が各施設装置・利用手続き等についてご紹…
装置使用料の改定について
いつもご利用頂きありがとうございます。 全学共同利用施設 光電子分光分析研究室は2019年4月1日より装置利用料について一部改定致します。 来年度からの装置利用料は以下の通りです。 一般利用(学内) 装 置 利用料 …
XPSの故障・復旧時期について
いつもご利用ありがとうございます。 現在、XPS(JPS-9200)について全てのX線源が使用出来ないトラブルが発生しております。 この為、年内中の予約について全てキャンセルとさせて頂きました。 ご利用予定の皆様について…
XPSモノクロX線の修理完了しました
いつもご利用ありがとうございます。 故障していたXPS(JPS-9200)のモノクロX線についてですが、先日復旧致しました。 通常通りご利用頂けます。 モノクロX線修理の都合で「Angle Resolved」測定時の磁場…
XPSでのモノクロX線の使用停止について。
いつもご利用ありがとうございます。 現在、XPS(JPS-9200)でモノクロX線が不調の為、信号検出が行えません。 復旧までの間、一時モノクロX線の使用を停止させて頂きます。 ノーマルのX線源(Mg-Kα、Al-Kα)…
光電子分光装置の試料準備室扉が変わりました
いつもご利用ありがとうございます。 光電子分光装置(JPS-9200)の試料準備室扉が新しく変わりました。 トランスファーベッセルを取り付ける用のフラ…
AESのメンテナンスについて
いつもご利用いただきありがとうございます。 オージェ電子分光装置について、先週末より真空系の故障が発生した為、現在ご使用出来ません。 故障修理に関わるメンテナンスは11月5日までを予定しております。 故障原因が特定出来て…
XPS＆AES定期メンテナンス日程のお知らせ
いつもご利用頂きありがとうございます。 9/25(火)~9/29(土)まで、光電子分光装置(XPS)の定期メンテナンスを行います。 また9/20(木)~9/27(木)まで、オージェ電子分光装置(AES)の定期メンテナンス…
SEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナーが開催されました
いつもご利用ありがとうございます。 5月9、10、17日にマテリアル分析・構造解析共用ユニット(MASAOU)主催によるSEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナーが開催されました。 当施設の各種装置について、MASA…
平成30年度 全学共同利用施設 説明会資料について
いつもご利用ありがとうございます。 本日、平成30年度全学共同利用施設 合同施設説明会を鈴木章ホールにて行いました。 当日説明会に使用した当施設についてのスライド及び配布資料についてご確認されたい方はこちらからご覧くださ…
施設説明会＆表面分析ユーザーズミーティング開催のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 4月23日(月)に2018年度工学研究院共同利用施設説明会を開催致します。 共同利用の施設の装置をご紹介致します。 光電子分光分析研究室の施設説明も行われます。 新規に施設のご利用され…
予約時のナノテク課題番号入力について
Thank you for always using. The procedure for applying for nanotechnology platform support in 2018 fiscal year…
AES&XPSメンテナンス日程のお知らせ
Thank you for using always. For the following schedule, each equipment can not be used for maintenance. AES: 2…
年末年始の研究室の予定について
We will inform the maintenance period of each equipment during the year-end and New Year period. XPS・CP・AFM・LS…
SEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器の修理完了のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 SEM(JSM-6510LA)で先月辺りから発生していた反射電子像(COMPO像)の不具合について、本日修理が完了致しました。 原因については不明ですが、検出器に粉体が付着している事が…
反射電子像(組成像)の不具合について
いつもご利用ありがとうございます。 現在、SEM(JSM-6510LA)で組成像観察時にノイズが入りこむ現象が発生しております。 これはサンプルに関わりなく、反射電子検出器の一部の検出器に不具合がある為です。 年内中に反…
オージェ電子分光装置(AES)修理のお知らせ
Thank you for always using. AES can not be used due to stage repair between １０am on November 6 and 12am on Nov…
原子間力顕微鏡(AFM)に関わる消耗品について
Thank you for always using. For the gel pack that stores cantilevers and cantilever which is necessary for usi…
第5回微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング及び共同利用施設合同説明会のお知らせ
いつもご利用頂きありがとうございます。 第５回微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング 及び 秋期の共同利用施設合同説明会の実施を下記の通り、お知らせします。 新しく各共同利用施設を利用されたいという方は合同説明会へぜ…
全学停電に伴う施設設備の使用停止について
Thank you for always using. We will stop the use of all equipment and facility from 9/1 (Fri) 9:00 to 9/4 (Mon…
7月21日にMASAOUの表面観察セミナーが行われました。
表面観察セミナー 7月21日(金)にMASAOU(マテリアル分析・構造解析共用ユニット)、当施設共催による表面観察セミナーが執り行われました。 SEMについて、初心者を対象とした内容の座学と実際に装置を利用しての実技を行…
AES定期メンテナンス日程のお知らせ
Thank you for using. 7/24 (Monday) – 7/28 (Friday), there is a periodic maintenance of Auger Electron Spectros…