投稿者: 鈴木啓太

オージェ電子分光装置で試料の断面を観察・分析する際に、板状の試料を分析方向に立ててセッティング出来るホルダーを大塚先生(環境材料学)から当研究室へ寄贈して頂きました。 当研究室利用者の方でしたらご自由に利用頂けます。詳し…

試料をホルダーに接着させる際にご利用頂ける導電性ペーストと銀ペーストを、当研究室の備品に加えました。 高倍率での微小領域分析などでは試料のブレが大きな問題になり、カーボンテープは高倍率の分析にはあまり適さない接着方法です…

最先端計測技術群による多元的な微細構造解析を中心にした研究支援を通して、ナノテクノロジーを活用した先進的材料分野における学問的・技術的課題解決によるイノベーションに寄与することを目的とした「ナノテクノロジープラットフォー…

当研究室の分析機器を利用した業績の掲載を更新いたしました。 当研究室の分析機器を利用された皆様の業績が、当研究室の実績として反映され、施設の維持や発展につながります。 施設を利用した論文などがありましたら当研究室のスタッ…

当研究室の分析機器を利用した業績の掲載を更新いたしました。 当研究室の分析機器を利用された皆様の業績が、当研究室の実績として反映され、施設の維持や発展につながります。 施設を利用した論文などがありましたら当研究室のスタッ…

6/12から6/15までの間、日本電子のAES講習会が光電子分光分析研究室で行われます。 受講期間、およびその調整期間として前日を含めた5日間はAESの利用が出来なくなります。 どうしても利用になりたい場合は深夜、早朝の…

先週から起きていたTSL　Data　Collectionのソフトウェアが強制終了するトラブルですが、復旧作業が終わりました。 従来通り使用できますので、AESの予約をした上で、安全にご利用くださいますよう、よろしくお願い…

XPS、AES、SEM、CPの動画マニュアルが用意できました。 各装置の動画マニュアルでは、各装置の一般的な使い方、使用方法について動画と字幕で簡易的に紹介しております。 全ての動画データが、解析用のPC2台に入れられて…

現在、EBSDのソフトウェアのTSL data collectionが使用出来ない状態になっています。 AESで菊池パターンを撮られる方は申し訳ありませんが、復旧まで暫しお待ちください。 復旧予定は未定です。 AES自体…

本日、光電子分光分析研究室安全講習会を無事執り行いました。 参加された方、お忙しい中お集まり頂き、ありがとうございました。 受講出来なかった方は、下記のPDFを熟読し、技術職員の居室までお尋ねください。名簿にお名前を記入…

既に安全衛生管理室から各研究室へ通達があったと思いますが、2012年5月30日午前9時～10時10分に光電子分光分析研究室の安全講習会を工学部B棟B32講義室で執り行うこととなりました。 当研究室の設備を利用するに当たっ…

２０１２年５月１１日現在、XPSで試料導入の際のトラブルの為、測定室を大気に戻す作業を行いました。 測定可能になるまで真空を引くので数日間のXPS使用が出来ません。 使用可能予定は５月１４日１０時を予定しております。 ご…

現在AES/XPS予約申し込みの画面から、平日休日関わらず２４時間、各分析機器の予約を立てる事が出来ます。 卒論、修論などの期日が迫る頃合いとなり、平日の予約が立てられない事が多いと思われますので、空いている事の多い夜間…

2012年1月4日より、予約可能時間帯を変更します。 土日含む休日の利用予約、24時間の利用予約を立てる事が出来るようになる予定です。 ただし、休日の利用、平日の深夜・早朝に渡る利用に関しては予約を立てる際、必ず当研究室…

XPS/AES予約画面上で技術職員の項目を追加しました。 光電子分光分析研究室に派遣されている技術職員の不在などを予約画面で確認出来るように致しましたので、技術職員に御用の際、または分析機器などのトラブル等の連絡の際、ご…

2011年11月22日から故障の為、停止していたXPSの復旧作業が終了し、本日から利用出来るようになりました。 故障に伴い、予約のキャンセルなどでご利用予定の皆様にご迷惑をおかけしました事をお詫び致します。 改めてAES…

2011年11月22日現在、XPSでワイドスキャンでのスペクトル測定などが出来ない現象が発生しています。 これから原因の特定、修理にかかる為、XPSご利用予定の皆様には大変申し訳ありませんが、一時予約の停止、キャンセルを…

2011年10月1日から技術職員のかたが配属されました。 測定補助や装置の使用説明などを担当されますので，測定などについてご相談下さい。 XPSのX線源（一部）を交換しましたので，現在，X線を起動するさいに放電しやすくな…