We will inform the maintenance period of each equipment during the year-end and New Year period. XPS・CP・AFM・LS…
SEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器の修理完了のお知らせ
いつもご利用ありがとうございます。 SEM(JSM-6510LA)で先月辺りから発生していた反射電子像(COMPO像)の不具合について、本日修理が完了致しました。 原因については不明ですが、検出器に粉体が付着している事が…
反射電子像(組成像)の不具合について
いつもご利用ありがとうございます。 現在、SEM(JSM-6510LA)で組成像観察時にノイズが入りこむ現象が発生しております。 これはサンプルに関わりなく、反射電子検出器の一部の検出器に不具合がある為です。 年内中に反…