日: 2017年12月8日

いつもご利用ありがとうございます。 現在、SEM(JSM-6510LA)で組成像観察時にノイズが入りこむ現象が発生しております。 これはサンプルに関わりなく、反射電子検出器の一部の検出器に不具合がある為です。 年内中に反…