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全学共同利用施設 光電子分光分析研究室は2019年4月1日より装置利用料について一部改定致します。
来年度からの装置利用料は以下の通りです。
- 一般利用(学内)
| 装 置 | 利用料 |
| X線光電子分光装置 (JPS-9200）XPS | 1,500円/1時間 |
| オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES | 1,800円/1時間 |
| 試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM | 700円/1時間 |
| 断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP | 500円/1時間 |
| 原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM | 300円/1時間 |
| 共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM | 200円/1時間 |
- ナノテクノロジープラットフォーム事業支援申請有(学内)※1，2
| 装 置 | 利用料 | 技術代行料A ※3 |
技術代行料B ※4 |
| X線光電子分光装置 (JPS-9200) XPS |
1,100円/1時間 | 5,100円/1時間 | 9,100円/1時間 |
| オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES |
1,400円/1時間 | 5,400円/1時間 | 9,400円/1時間 |
| 試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM |
500円/1時間 | － | － |
| 断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP |
300円/1時間 | － | － |
| 原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM |
300円/1時間 | － | － |
| 共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM |
200円/1時間 | － | － |
※1ナノテクノロジープラットフォーム事業の支援課題申請書を提出された装置利用者またはその申請の関連研究者等に記載がある装置利用者で装置利用がその申請課題に基づく利用である。且つ、その申請課題で年度中に本施設の光電子分光装置（XPS）またはオージェ電子分光装置（AES）の利用がある場合に本区分の料金を適用される。
※2装置予約時に課題番号の入力が必要。
※3利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で測定を行う場合。
※4利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で高度な測定やデータ解析を行う場合。
- 学外(大学・公的機関)
| 装 置 | 初回講習料 | 利用料 | 技術代行料A※3 | 技術代行料B※4 |
| X線光電子分光装置 (JPS-9200) XPS |
32,000円 /1回 |
1,700円 /1時間 |
5,700円 /1時間 |
9,700円 /1時間 |
| オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES |
32,000円 /1回 |
2,300円 /1時間 |
6,300円 /1時間 |
10,300円 /1時間 |
| 試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM |
16,000円 /1回 |
800円 /1時間 |
－ | － |
| 断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP |
16,000円 /1回 |
600円 /1時間 |
－ | － |
| 原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM |
8,000円 /1回 |
400円 /1時間 |
－ | － |
| 共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM |
8,000円 /1回 |
300円 /1時間 |
－ | － |
- 学外(一般)
| 装 置 | 初回講習料 | 利用料 | 技術代行料A ※3 |
技術代行料B ※4 |
| X線光電子分光装置 (JPS-9200) XPS |
32,000円 /1回 |
5,500円 /1時間 |
9,500円 /1時間 |
13,500円 /1時間 |
| オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES |
32,000円 /1回 |
8,100円 /1時間 |
12,100円 /1時間 |
16,100円 /1時間 |
| 試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM |
16,000円 /1回 |
2,000円 /1時間 |
－ | － |
| 断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP |
16,000円 /1回 |
1,100円 /1時間 |
－ | － |
| 原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM |
8,000円 /1回 |
1,600円 /1時間 |
－ | － |
| 共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM |
8,000円 /1回 |
1,500円 /1時間 |
－ | － |
- 技術支援料
| 技術支援内容 | 単価 |
| 技術支援A※5 | 4,000円/1時間 |
| 技術支援B※6 | 8,000円/1時間 |
| 技術相談 | 4,000円/1時間 |
※5各種分析装置に関する通常の手法で可能な試料前処理(表面研磨、加工)などの作業
※6各種分析装置に関するより精緻な試料前処理(表面研磨、加工、予備観察)が必要になる作業
学内利用者についてはAFMとLSCMの装置利用料が変更となりました。
学外利用者については初回講習料及び技術代行料について、料金が変更となった他、今まで学外開放していなかった本施設保有のSEM、CP、AFM、LSCMの4機種について、学外利用及び各装置に関する技術支援の料金規程を設定しました。
本改定は主に本学ナノテクノロジープラットフォーム事業の料金規程の変更に伴う改定となります。
装置利用料の変更に伴い、利用者の皆様にご負担をお掛けしてしまう事になりますが、ご理解のほど何卒宜しくお願い致します。
利用料についてご不明な点がございましたら、施設職員までご連絡下さいますようよろしくお願い致します。