いつもご利用頂きありがとうございます。
全学共同利用施設 光電子分光分析研究室は 2019年 4月1日から装置使用料の料金改定を行っておりましたが、 2019年 10月1日からの消費税増税及び 本学ナノテクノロジープラットフォーム事業の料金規程の変更に伴いまして、再度料金規程が10月1日付けで変更となります。
再々の料金改定で利用者の皆様には大変ご負担をお掛けしてしまう事になりますが、ご理解のほど何卒宜しくお願い致します。
この度の主な変更点と致しまして、
・学内ナノテクプラットフォーム利用者のXPS、AESの利用料及び代行料単価の100円増
・学外利用者の初回講習料、利用料、代行料の一割増
・学外利用者の技術支援料、消耗品料金の一割増
となっております。
装置利用料の変更に伴い、利用者の皆様にご負担をお掛けしてしまう事になりますが、ご理解のほど何卒宜しくお願い致します。
利用料についてご不明な点がございましたら、施設職員までご連絡下さいますようよろしくお願い致します。
2019年10月1日からの装置使用料は以下の通りです。
- 一般利用(学内)
| 装 置 | 利用料 |
| X線光電子分光装置 (JPS-9200）XPS | 1,500円/1時間 |
| オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES | 1,800円/1時間 |
| 試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM | 700円/1時間 |
| 断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP | 500円/1時間 |
| 原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM | 300円/1時間 |
| 共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM | 200円/1時間 |
- ナノテクノロジープラットフォーム事業支援申請有(学内)※1，2
| 装 置 | 利用料 | 技術代行料A ※3 |
技術代行料B ※4 |
| X線光電子分光装置 (JPS-9200) XPS |
1,200円/1時間 | 5,200円/1時間 | 9,200円/1時間 |
| オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES |
1,500円/1時間 | 5,500円/1時間 | 9,500円/1時間 |
| 試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM |
500円/1時間 | － | － |
| 断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP |
300円/1時間 | － | － |
| 原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM |
300円/1時間 | － | － |
| 共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM |
200円/1時間 | － | － |
※1ナノテクノロジープラットフォーム事業の支援課題申請書を提出された装置利用者またはその申請の関連研究者等に記載がある装置利用者で装置利用がその申請課題に基づく利用である。且つ、その申請課題で年度中に本施設の光電子分光装置（XPS）またはオージェ電子分光装置（AES）の利用がある場合に本区分の料金が適用される。
※2装置予約時に課題番号の入力が必要。
※3利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で測定を行う場合。
※4利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で高度な測定やデータ解析を行う場合。
- 学外(大学・公的機関)
| 装 置 | 初回講習料 | 利用料 | 技術代行料A※2 | 技術代行料B※3 |
| X線光電子分光装置 (JPS-9200) XPS ※1 |
35,200円 /1回 |
2,000円 /1時間 |
6,400円 /1時間 |
10,800円 /1時間 |
| オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES ※1 |
35,200円 /1回 |
2,600円 /1時間 |
7,000円 /1時間 |
11,400円 /1時間 |
| 試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM |
17,600円 /1回 |
880円 /1時間 |
－ | － |
| 断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP |
17,600円 /1回 |
660円 /1時間 |
－ | － |
| 原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM |
8,800円 /1回 |
440円 /1時間 |
－ | － |
| 共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM |
8,800円 /1回 |
330円 /1時間 |
－ | － |
※1ナノテクノロジープラットフォーム事業登録装置のため、ナノテクノロジープラットフォーム事業への支援申請が必要。
※2利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で測定を行う場合。
※3利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で高度な測定やデータ解析を行う場合。
- 学外(一般)
| 装 置 | 初回講習料 | 利用料 | 技術代行料A※2 | 技術代行料B※3 |
| X線光電子分光装置 (JPS-9200) XPS ※1 |
35,200円 /1回 |
6,200円 /1時間 |
10,600円 /1時間 |
15,000円/1時間 |
| オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES ※1 |
35,200円 /1回 |
9,000円 /1時間 |
13,400円 /1時間 |
17,800円 /1時間 |
| 試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM |
17,600円 /1回 |
2,200円 /1時間 |
－ | － |
| 断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP |
17,600円 /1回 |
1,210円 /1時間 |
－ | － |
| 原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM |
8,800円 /1回 |
1,760円 /1時間 |
－ | － |
| 共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM |
8,800円 /1回 |
1,650円 /1時間 |
－ | － |
※1ナノテクノロジープラットフォーム事業登録装置のため、ナノテクノロジープラットフォーム事業への支援申請が必要。
※2利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で測定を行う場合。
※3利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で高度な測定やデータ解析を行う場合。
- 技術支援料
| 技術支援内容 | 単価(学内) | 単価(学外) |
| 技術支援料(通常)※5 | 4,000円/1時間 | 4,400円/1時間 |
| 技術支援料(高度)※6 | 8,000円/1時間 | 8,800円/1時間 |
| 技術相談料※7 | 10,000円/1時間 | 11,000円/1時間 |
※5各種分析装置に関する通常の手法で可能な試料前処理(表面研磨、加工)などの作業
※6各種分析装置に関するより精緻な試料前処理(表面研磨、加工、予備観察)が必要になる作業
※7各種分析装置に関する分析結果に関して行う高度な解析作業。通常の技術相談については施設としてご請求する事はありません。
- 消耗品
| 消耗品 | 単価(学内利用者) | 単価(学外利用者) |
| マイクロカンチレバー(SI-DF40) | 3,800円/本 | 4,180円/本 |
| マイクロカンチレバー(SN-AF01) | 3,300円/本 | 3,630円/本 |
| カンチレバー用ゲルパック 静電気対策品 |
4,600円/個 | 5,060円/個 |