いつもご利用ありがとうございます。
詳しい日程は未定ですが、2月20日の週からSEMの反射電子検出器の修理があるため、しばらくの間、反射電子像を見ることができません。
二次電子像を見る分には問題がないため、反射電子と低真空モードを使用する以外は通常通りSEMを使用することができます。
反射電子検出器の修理が終わり次第、再度お知らせします。
また、3月22日から24日の期間中、AESのEBSD更新に伴い、メンテナンスを行います。
メンテナンス期間中は、AESの利用ができません。
ご理解とご協力のほどよろしくお願いいたします。
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Thank you for using it all the time.
Since the backscattered electron detector of the SEM will be repaired from the week of February 20th, we will not be able to see backscattered electron images for a while.
The start date and end date of the repair are undecided.
However, since there is no problem in viewing secondary electron images, SEM can be used normally except for backscattered electron and low-vacuum modes.
We will notify you again as soon as the backscattered electron detector has been repaired.
Also, from March 22nd to March 24th, AES will be undergoing maintenance due to the EBSD update of AES.
AES will not be available during the maintenance period.
Thank you for your understanding and cooperation.