第8回北海道大学微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング開催について

いつもご利用頂きありがとうございます。 このたび「第8回北海道大学微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング」を光電子分光分析研究室、ナノマイクロマテリアル分析研究室、複合量子ビーム超高圧顕微解析研究室、3施設主催で開催…

SEMの反射電子検出器の修理&AESメンテナンスについて (About SEM Backscattered Electron Detector Repair & AES Maintenance)

いつもご利用ありがとうございます。 詳しい日程は未定ですが、2月20日の週からSEMの反射電子検出器の修理があるため、しばらくの間、反射電子像を見ることができません。 二次電子像を見る分には問題がないため、反射電子と低真…

鈴木啓太技術専門職員が技術支援貢献賞を受賞しました

いつもご利用頂きありがとうございます。 本施設技術職員の鈴木啓太が 「XPS,AESを用いた微細構造解析支援」  に関して、文部科学省 ナノテクノロジープラットフォーム 令和3年度技術支援貢献賞を受賞しました。 ナノテク…

令和3年度ナノプラ事業 支援課題申請の受付が開始しました。

いつもご利用ありがとうございます。 令和3年度のナノテクノロジープラットフォーム事業の支援課題申請の受付が開始しました。 当施設のXPS、AESは本事業の登録装置です。本支援を受けられる研究課題による装置利用について、装…

オージェ電子分光装置トランスファーベッセル取り付けに関わる変更点について

いつもご利用頂きありがとうございます。 本日、オージェ電子分光装置(AES)に大気非暴露用トランスファーベッセルの装備が取り付けられました。 試料準備室の扉部及び上部フランジが変更になっています。 また試料ホルダーを取り…